2024年3月15日，北京邮电大学田烨特聘副研究员应罗雪老师的邀请，在E706为数学学院的师生带来了一场题为“Stratification pattern enumerator and its applications”的学术报告。
空间填充设计广泛应用于计算机实验中。最近的研究结果中，提出了一种最小像差型空间填充标准，用于对一系列空间填充设计进行排序和评估，包括基于正交阵列的拉丁超立方体和强正交阵列。然而，实践中很难应用该标准，因为它需要密集的计算来确定空间填充模式，该模式测量不同子区域设计的分层特性。在报告中，田烨特聘副研究员提出了一个分层模式枚举器来表征分层特性。该枚举器易于计算，并且可以有效地对空间填充设计进行排序。田烨特聘副研究员证明了分层模式枚举器是空间填充模式的线性组合。基于这种联系，开发了计算空间填充模式的有效算法。此外，还建立了分层模式枚举器的下界，并提出了使用伽罗瓦域上的乘法表实现下界的设计的构造方法。所构建的设计在低维投影中具有良好的空间填充特性，并且在各种标准下是稳健的。
报告结束后，参加报告的师生就相关领域与田烨特聘副研究员展开了热烈的讨论与交流，拓宽了研究思路。
报告人简介：田烨，特聘副研究员，本科毕业于南开大学太阳成集团tyc7111cc统计学专业，2021年博士毕业于加利福尼亚大学洛杉矶分校统计系，目前就职于北京邮电大学理学院数学系,从事统计学理论中试验设计相关研究。在Biometrika, Journal of the Royal Statistical Society Series B:Statistical Methodology 上发表一作文章，研究方向主要包括均匀设计和偏差研究，具有分层性质的空间填充设计的研究、评价准则的提出、设计的构建，强正交表的研究，大数据抽样方法与试验设计方法的结合研究等。
